產(chǎn)品列表
PROUCTS LIST
相關(guān)文章
ARTICLE
產(chǎn)品中心Products 當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 集成電路電磁兼容測試 > 電磁干擾測試
-
LANGER EMV-Technik SX近場探頭組 信號分析儀LANGER EMV-Technik SX近場探頭組專門為近場測試設(shè)計(jì)的探頭，電磁兼容工程師*的基本工具，用于在產(chǎn)品開發(fā)期間探測PCB的電磁場情況
查看詳細(xì)介紹 -
電磁干擾發(fā)射探頭電磁干擾發(fā)射探頭P600 / P750 set 的測量結(jié)果保證了測量結(jié)果的高重復(fù)性和可比性?？梢允褂肅hipScan-ESA軟件進(jìn)行測量。所有被測引腳的測量結(jié)果通過軟件保存。它允許系統(tǒng)地和快速地比較和分析測量數(shù)據(jù)。
查看詳細(xì)介紹 -
電磁干擾發(fā)射探頭電磁干擾發(fā)射探頭S603 / S750 set 的測量結(jié)果保證了測量結(jié)果的高重復(fù)性和可比性。可以使用ChipScan-ESA軟件進(jìn)行測量。所有被測引腳的測量結(jié)果通過軟件保存。它允許系統(tǒng)地和快速地比較和分析測量數(shù)據(jù)。
查看詳細(xì)介紹 -
電磁干擾發(fā)射探頭組電磁干擾發(fā)射探頭組P603 / P750 set ，該探頭組能夠接觸到測試IC的每個(gè)引腳。 該探頭套組能夠確保較高的測量重復(fù)精度和測量的可比較性。
查看詳細(xì)介紹 -
電磁干擾發(fā)射探頭組電磁干擾發(fā)射探頭組P603-1 / P750 set,基于IEC61967-4標(biāo)準(zhǔn)的傳導(dǎo)發(fā)射測量,該探頭套組用于測量IC引腳的傳導(dǎo)發(fā)射（采用1歐姆/150歐姆直接耦合進(jìn)行測量）。
查看詳細(xì)介紹
共 5 條記錄，當(dāng)前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉(zhuǎn)到第頁
